使用相控阵+双晶线性阵列探头检测点腐蚀

　　DLA相控阵线型阵列探头

　　Olympus开发的用于腐蚀检测的新型双晶线性阵列探头，与常规超声双晶探头相比，具有更多的优势特性。这种相控阵解决方案，通过诸如更大的声束覆盖范围、更快的扫查速度，及具有更高数据点密度的C扫描成像等特性，提高了检测的生产力。与标准的相控阵脉冲回波相比，这款新探头所使用的一发一收技术在腐蚀测量应用中可提供更好的近表面分辨率及更强大的点蚀探测能力，从而可提高关键性壁厚减薄的探出率。

　　探头特性　　

　　①近表面1毫米的探测性能。

　　②32毫米的声束覆盖宽度。　　

　　③快速调整系统，可适用于直径从4英寸到平面材料的检测。　　

　　④硬质合金防磨板，可保护楔块。

　　⑤轻型铝质外壳。

　　⑥编码数据采集即需即用。

　　⑦USB秘钥中的OmniScan配置文件（MX、MX2和SX）。

　　OmniScan软件特性　　

　　①侧视图、端视图和顶视图成像（B扫描、S扫描和C扫描）。　

　　②同时表现波幅和渡越时间的C扫描成像，此外还带有厚度读数。

　　③完整的高分辨率A扫描存储。

　　④两个可配置的探测闸门。

　　⑤在OmniScan或一个使用OmniPC的计算机中进行离线分析的性能。

　　全新的解决方案，相同的OmniScan

　　双晶线性阵列探头的出现为现有的奥林巴斯HydroFORM和RexoFORM腐蚀解决方案增添了一种新型、低成本的入门级检测性能，特别是在与OmniScan SX仪器一起使用时。在将这种探头与一款OmniScan相控阵仪器（PR或非PR）一起使用时，设置与操作步骤非常简单：导入设置文件，校准仪器，然后进行检测并记录数据。

　　在探头上安装一个编码器即可为用户提供在仪器上生成C扫描的功能。其创新性探头稳定系统可使探头在直径小到4英寸的管道表面上进行平滑的数据采集。通常，碳钢中的检测深度范围为1毫米到80毫米。

　　双晶阵列一发一收技术

　　与双晶UT探头一样，双晶线性阵列探头包含一组发射晶片和一组接收晶片，这两组晶片被分别安装在以一定角度断开的延迟块的两部分上。这种配置可以生成在被测工件表面以下聚焦的声束，从而可极大地降低表面反射的波幅。这种配置还可以提高近表面分辨率，得到对诸如点蚀、蠕变损伤、和HIC（氢致裂纹）等关键性缺陷的更高的探出率。

　　一发一收

　　脉冲回波

　　与相控阵脉冲回波相比，一发一收技术仅生成极小的界面回波，提供更好的近表面分辨率。

　　碳钢管道上腐蚀缺陷的B扫描图像。
 

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